產(chǎn)品詳情
射線照相法（RT）
是指用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法，該方法是最基本的，應(yīng)用最廣泛的一種非破壞性檢驗(yàn)方法。
原理：射線能穿透肉眼無(wú)法穿透的物質(zhì)使膠片感光，當(dāng)X射線或r射線照射膠片時(shí)，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛影，由于不同密度的物質(zhì)對(duì)射線的吸收系數(shù)不同，照射到膠片各處的射線強(qiáng)度也就會(huì)產(chǎn)生差異，便可根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來(lái)判別缺陷。
總的來(lái)說，RT的定性更準(zhǔn)確，有可供長(zhǎng)期保存的直觀圖像，總體成本相對(duì)較高，而且射線對(duì)人體有害，檢驗(yàn)速度會(huì)較慢。
超聲波檢測(cè)（UT）
原理：通過超聲波與試件相互作用，就反射、透射和散射的波進(jìn)行研
超聲波檢測(cè)
究，對(duì)試件進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)、幾何特性測(cè)量、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的檢測(cè)和表征，并進(jìn)而對(duì)其特定應(yīng)用性進(jìn)行評(píng)價(jià)的技術(shù)。
適用于金屬、非金屬和復(fù)合材料等多種試件的無(wú)損檢測(cè)；可對(duì)較大厚度范圍內(nèi)的試件內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)。如對(duì)金屬材料，可檢測(cè)厚度為1～2mm的薄壁管材和板材，也可檢測(cè)幾米長(zhǎng)的鋼鍛件；而且缺陷定位較準(zhǔn)確，對(duì)面積型缺陷的檢出率較高；靈敏度高，可檢測(cè)試件內(nèi)部尺寸很小的缺陷；并且檢測(cè)成本低、速度快，設(shè)備輕便，對(duì)人體及環(huán)境無(wú)害，現(xiàn)場(chǎng)使用較方便。
但其對(duì)具有復(fù)雜形狀或不規(guī)則外形的試件進(jìn)行超聲檢測(cè)有困難；并且缺陷的位置、取向和形狀以及材質(zhì)和晶粒度都對(duì)檢測(cè)結(jié)果有一定影響，檢測(cè)結(jié)果也無(wú)直接見證記錄。
磁粉檢測(cè)（MT）
原理：鐵磁性材料和工件被磁化后，由于不連續(xù)性的存在，使
磁粉檢測(cè)
工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合適光照下目視可見的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、形狀和大小。
