產(chǎn)品詳情
1. 主要測(cè)塊體樣品,尺寸大于1*1cm2,對(duì)于非均勻樣品,不一定保證可以掃到滿意結(jié)果。一般不測(cè)粉末,有需要請(qǐng)?zhí)崆皽贤?,粉末需要比較細(xì)膩,顆粒平均直徑不超過(guò)30 μm。
2. 測(cè)試樣品的表面需具有一定的反光率,樣品臺(tái)階的高度不能大于10mm。
3.樣品需平整,表面粗糙度小于300 μm;
表面粗糙度小于300μm可以,納米級(jí)別的建議用AFM測(cè)試。
測(cè)試范圍:1mm*1mm,若無(wú)特殊要求實(shí)驗(yàn)室自行確定,一個(gè)樣品拍攝位置數(shù)目一般拍攝2個(gè),多出2個(gè)位置需要加收費(fèi)用。
1.掃描范圍是多少?
三維形貌輪廓儀掃描一次范圍是1.69mm * 1.26mm。
2.樣品范圍較大,怎么