產(chǎn)品詳情
可靠性試驗(yàn)進(jìn)行介紹：
跌落試驗(yàn)（
暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷
GB/T2423.8-1995
跌落測(cè)試機(jī)
）電性能參數(shù)測(cè)試：如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
）功能測(cè)試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。
）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。
）內(nèi)存時(shí)鐘：樣機(jī)中存中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
測(cè)試方法：
） 樣機(jī)中存中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
）將樣機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)插卡狀態(tài)，對(duì)手機(jī)進(jìn)行
個(gè)面
的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為
次，每個(gè)面跌落面都要對(duì)手機(jī)的外觀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時(shí)間和功能進(jìn)行檢查。
）跌落順序?yàn)椋?br /> ）跌落過(guò)程中，對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開(kāi)到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對(duì)于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開(kāi)到上限位置。
）若樣品數(shù)量為奇數(shù)，則多的一臺(tái)打開(kāi)翻蓋或滑開(kāi)滑蓋。
）測(cè)試條件：跌落高度
，
厚的大理石地板。（對(duì)于
手機(jī)，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門(mén)的建議可調(diào)整為跌落高度為
手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時(shí)間無(wú)異常。
）參數(shù)測(cè)試：與綜測(cè)儀連接進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，電性能符合測(cè)試要求。
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、
、揚(yáng)聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無(wú)異常。
）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、
及
等無(wú)脫落，殼體卡鉤無(wú)脫出、斷裂；
無(wú)破裂；天線無(wú)脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無(wú)松動(dòng)、脫出、斷裂、晃動(dòng)無(wú)異響，
無(wú)破裂、脫落以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；
）外觀檢查：殼體表面無(wú)明顯掉漆，無(wú)裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象
）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失、時(shí)鐘無(wú)混亂、復(fù)位、超前、滯后等；
）備注：電池
電池蓋脫落、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無(wú)異常，不記錄為有問(wèn)題。
重復(fù)跌落測(cè)試（
Micro-Drop Test
）
測(cè)試環(huán)境：
20~25
測(cè)試目的：
驗(yàn)證樣品重復(fù)跌落的可靠性
桌面跌落機(jī)
不少于
臺(tái)樣機(jī)
）參數(shù)測(cè)試：如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測(cè)試
）功能測(cè)試：撥打電話、顯示、鈴聲、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、
卡以及其它未描述到的功能
）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)
）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍，以及其它未描述到的外觀；
）內(nèi)存時(shí)鐘：存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間
測(cè)試方法：
）在手機(jī)中預(yù)存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
）將樣機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)，插入測(cè)試卡，進(jìn)行
次，第
次對(duì)樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)、外觀、內(nèi)存及時(shí)間的檢查。
）跌落速率為：
次
分鐘。
）跌落高度：
。
）跌落時(shí)一半樣品跌正面，一半樣品跌背面。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
重復(fù)跌落
50,000
次后，對(duì)樣品進(jìn)行如下檢查
）參數(shù)測(cè)試：可與綜測(cè)儀建立連接進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，手機(jī)參數(shù)應(yīng)符合測(cè)試要求
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、
、揚(yáng)聲器、受話器、回音、按鍵、指示燈、拍照、充電等功能無(wú)異常，無(wú)關(guān)機(jī)、掉卡現(xiàn)象以及其它未描述到的功能均正常。
）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、
及
等無(wú)脫落，殼體、卡鉤無(wú)脫出、斷裂；
無(wú)破裂；天線無(wú)脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無(wú)松動(dòng)、脫出、斷裂；晃動(dòng)無(wú)異響；
無(wú)破裂、脫落以及其他與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
）外觀檢查：殼體表面無(wú)明顯掉漆、無(wú)裂紋、破損、沖擊痕以及其他與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失；時(shí)鐘無(wú)混亂、復(fù)位、超前或滯后等）；
滾筒跌落測(cè)試（
Free Fall Test
）
測(cè)試環(huán)境：
室溫（
20-25
℃）
測(cè)試目的：
驗(yàn)證手機(jī)疲勞跌落的可靠性
GB/T 2423.8-1995
IEC 68-2-32:1990
滾筒跌落測(cè)試機(jī)
不少于
臺(tái)
1
）參數(shù)測(cè)試：如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
）功能測(cè)試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。
）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。
）內(nèi)存時(shí)鐘：樣機(jī)中存中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
測(cè)試方法：
1
）將樣機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)不插卡狀態(tài)，樣機(jī)中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
）將樣品放入滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)，進(jìn)行高度為
的
次隨機(jī)跌落測(cè)試。
）每
次對(duì)樣品進(jìn)行功能與結(jié)構(gòu)檢查，每
次進(jìn)行電性能檢查。
）對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開(kāi)到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對(duì)于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開(kāi)到上限位置。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時(shí)間無(wú)異常。
1
）參數(shù)測(cè)試：樣品電性能測(cè)試合格。
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、
、揚(yáng)聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無(wú)異常。
）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、
及
等無(wú)脫落，殼體卡鉤無(wú)脫出、斷裂；
無(wú)破裂；天線無(wú)脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無(wú)松動(dòng)、脫出、斷裂、晃動(dòng)無(wú)異響，
無(wú)破裂、脫落以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
4
）外觀檢查：殼體表面無(wú)明顯掉漆，無(wú)裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失、時(shí)鐘無(wú)混亂、復(fù)位、超前、滯后等）
）備注：電池
電池蓋脫落、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無(wú)異常，不記錄為有問(wèn)題
跌落試驗(yàn)（
暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷
GB/T2423.8-1995
跌落測(cè)試機(jī)
）電性能參數(shù)測(cè)試：如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
）功能測(cè)試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。
）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。
）內(nèi)存時(shí)鐘：樣機(jī)中存中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
測(cè)試方法：
） 樣機(jī)中存中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
）將樣機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)插卡狀態(tài)，對(duì)手機(jī)進(jìn)行
個(gè)面
的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為
次，每個(gè)面跌落面都要對(duì)手機(jī)的外觀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時(shí)間和功能進(jìn)行檢查。
）跌落順序?yàn)椋?br /> ）跌落過(guò)程中，對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開(kāi)到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對(duì)于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開(kāi)到上限位置。
）若樣品數(shù)量為奇數(shù)，則多的一臺(tái)打開(kāi)翻蓋或滑開(kāi)滑蓋。
）測(cè)試條件：跌落高度
，
厚的大理石地板。（對(duì)于
手機(jī)，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門(mén)的建議可調(diào)整為跌落高度為
手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時(shí)間無(wú)異常。
）參數(shù)測(cè)試：與綜測(cè)儀連接進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，電性能符合測(cè)試要求。
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、
、揚(yáng)聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無(wú)異常。
）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、
及
等無(wú)脫落，殼體卡鉤無(wú)脫出、斷裂；
無(wú)破裂；天線無(wú)脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無(wú)松動(dòng)、脫出、斷裂、晃動(dòng)無(wú)異響，
無(wú)破裂、脫落以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；
）外觀檢查：殼體表面無(wú)明顯掉漆，無(wú)裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象
）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失、時(shí)鐘無(wú)混亂、復(fù)位、超前、滯后等；
）備注：電池
電池蓋脫落、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無(wú)異常，不記錄為有問(wèn)題。
重復(fù)跌落測(cè)試（
Micro-Drop Test
）
測(cè)試環(huán)境：
20~25
測(cè)試目的：
驗(yàn)證樣品重復(fù)跌落的可靠性
桌面跌落機(jī)
不少于
臺(tái)樣機(jī)
）參數(shù)測(cè)試：如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測(cè)試
）功能測(cè)試：撥打電話、顯示、鈴聲、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、
卡以及其它未描述到的功能
）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)
）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍，以及其它未描述到的外觀；
）內(nèi)存時(shí)鐘：存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間
測(cè)試方法：
）在手機(jī)中預(yù)存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
）將樣機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)，插入測(cè)試卡，進(jìn)行
次，第
次對(duì)樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)、外觀、內(nèi)存及時(shí)間的檢查。
）跌落速率為：
次
分鐘。
）跌落高度：
。
）跌落時(shí)一半樣品跌正面，一半樣品跌背面。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
重復(fù)跌落
50,000
次后，對(duì)樣品進(jìn)行如下檢查
）參數(shù)測(cè)試：可與綜測(cè)儀建立連接進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，手機(jī)參數(shù)應(yīng)符合測(cè)試要求
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、
、揚(yáng)聲器、受話器、回音、按鍵、指示燈、拍照、充電等功能無(wú)異常，無(wú)關(guān)機(jī)、掉卡現(xiàn)象以及其它未描述到的功能均正常。
）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、
及
等無(wú)脫落，殼體、卡鉤無(wú)脫出、斷裂；
無(wú)破裂；天線無(wú)脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無(wú)松動(dòng)、脫出、斷裂；晃動(dòng)無(wú)異響；
無(wú)破裂、脫落以及其他與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
）外觀檢查：殼體表面無(wú)明顯掉漆、無(wú)裂紋、破損、沖擊痕以及其他與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失；時(shí)鐘無(wú)混亂、復(fù)位、超前或滯后等）；
滾筒跌落測(cè)試（
Free Fall Test
）
測(cè)試環(huán)境：
室溫（
20-25
℃）
測(cè)試目的：
驗(yàn)證手機(jī)疲勞跌落的可靠性
GB/T 2423.8-1995
IEC 68-2-32:1990
滾筒跌落測(cè)試機(jī)
不少于
臺(tái)
1
）參數(shù)測(cè)試：如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄一進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。如果被測(cè)試樣品為
，參照附錄二進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
）功能測(cè)試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。
）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。
）內(nèi)存時(shí)鐘：樣機(jī)中存中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
測(cè)試方法：
1
）將樣機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)不插卡狀態(tài)，樣機(jī)中存入
個(gè)電話和
條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。
）將樣品放入滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)，進(jìn)行高度為
的
次隨機(jī)跌落測(cè)試。
）每
次對(duì)樣品進(jìn)行功能與結(jié)構(gòu)檢查，每
次進(jìn)行電性能檢查。
）對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開(kāi)到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對(duì)于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開(kāi)到上限位置。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時(shí)間無(wú)異常。
1
）參數(shù)測(cè)試：樣品電性能測(cè)試合格。
）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、
、揚(yáng)聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無(wú)異常。
）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、
及
等無(wú)脫落，殼體卡鉤無(wú)脫出、斷裂；
無(wú)破裂；天線無(wú)脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無(wú)松動(dòng)、脫出、斷裂、晃動(dòng)無(wú)異響，
無(wú)破裂、脫落以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
4
）外觀檢查：殼體表面無(wú)明顯掉漆，無(wú)裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失、時(shí)鐘無(wú)混亂、復(fù)位、超前、滯后等）
）備注：電池
電池蓋脫落、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無(wú)異常，不記錄為有問(wèn)題
